電子部品の異常個所検出装置、及び電子部品の異常個所検出方法

Electronic component irregular portion detection device and electronic component irregular portion detection method

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To enable a detection of an electric irregularity portion inside an electronic component such as an operation defect and the like with ease and in a short time without accompanying destruction of the electronic components.SOLUTION: An electronic component irregularity portion detection device comprises: voltage application means 3 that applies a pulse voltage V1 to a deterioration component 2 of a laminate ceramic capacitor at a prescribed pulse width Δt1; a magnetic field intensity capture device 4 that captures magnetic field intensity generating from the deterioration component 2 during the application of the pulse voltage V1; and a computation processing unit 14 that prepares a magnetic field distribution from the magnetic field intensity captured by the magnetic field intensity capture device, and detects an irregularity portion of the deterioration component on the basis of the magnetic field distribution. Then, the electronic component irregularity portion detection device is configured to: apply the pulse voltage V1 to the deterioration component 2 at the prescribed pulse width Δt1; capture the magnetic field intensity of the deterioration component 2 during the application of the pulse voltage V1; prepare the magnetic field distribution from the magnetic field intensity; and detect the irregularity portion of the deterioration component 2 on the basis of the magnetic field distribution.SELECTED DRAWING: Figure 1
【課題】電子部品の破壊を伴うことなく、動作不良等の電子部品内部の電気的な異常箇所を容易かつ短時間で検出できるようにする。【解決手段】所定のパルス幅Δt1で積層セラミックコンデンサの劣化品2にパルス電圧V1を印加する電圧印加手段3と、パルス電圧V1の印加中に劣化品2から発生する磁場強度を取り込む磁場強度取込装置4と、磁場強度取込装置によって取り込まれた磁場強度から磁場分布を作成し、該磁場分布に基づいて劣化品の異常個所を検出する演算処理部14とを備えている。そして、所定のパルス幅Δt1で劣化品2にパルス電圧V1を印加し、パルス電圧V1の印加中に劣化品2の磁場強度を取り込み、磁場強度から磁場分布を作成し、該磁場分布に基づいて劣化品2の異常個所を検出する。【選択図】図1
【課題】電子部品の破壊を伴うことなく、動作不良等の電子部品内部の電気的な異常箇所を容易かつ短時間で検出できるようにする。 【解決手段】所定のパルス幅Δt1で積層セラミックコンデンサの劣化品2にパルス電圧V1を印加する電圧印加手段3と、パルス電圧V1の印加中に劣化品2から発生する磁場強度を取り込む磁場強度取込装置4と、磁場強度取込装置によって取り込まれた磁場強度から磁場分布を作成し、該磁場分布に基づいて劣化品の異常個所を検出する演算処理部14とを備えている。そして、所定のパルス幅Δt1で劣化品2にパルス電圧V1を印加し、パルス電圧V1の印加中に劣化品2の磁場強度を取り込み、磁場強度から磁場分布を作成し、該磁場分布に基づいて劣化品2の異常個所を検出する。 【選択図】図1

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